CDEA
Infraestructura
laboratorio microscopio de barrido de emision de campo FE-SEM
La adquisición de un Microscopio Electrónico de Barrido de emisión de campo (FE-SEM) más un sistema de recubrimiento de muestras, mediante un proyecto FONDEQUIP mediano, EQM 220028, por un monto total de 542.000.000 CLP será un gran aporte a la docencia e investigación de la Universidad de Antofagasta La decisión de postular a este equipo obedece a los criterios de multiplicidad de análisis y transversalidad de uso por las diferentes áreas de investigación, docencia de pre y post grado de la Universidad. Por lo que su utilización fortalece el plan institucional, investigación, docencia, vinculación y generación de capital humano avanzado. Este equipo a diferencia de un SEM tradicional su fuente de emisión de electrones de alta y baja energía focalizados permiten obtener una mejor resolución de imagen tridimensional y una mayor vida útil del equipo. Entregando información sobre análisis estructural, textura, composición y análisis elementales. Estas características lo hacen un equipo imprescindible para áreas de la universidad como: energía solar, procesos mineros (metálico y no metálico), recursos hídricos, biotecnología, bioinnovación y nuevos materiales para la industria. Áreas que están relacionadas con el compromiso de la universidad en contribuir al desarrollo económico e investigativo para mejorar la sociedad del país y de la región de Antofagasta
Equipamiento
El equipo adquirido es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con presión variable ZEISS Sigma 360 VP, para visualización en alto (HP) y bajo vacío (VP) a potencias variables desde los 0,5KV hasta los 30KV. Además, vienen incluidos variados detectores del equipo, como dos detectores de electrones secundarios (SE), uno Tradicional y otro INLENS para poder obtener una mejor imagen topográfica. Además, un detector de electrones retrodispersados (BSE), detector de electrones secundarios en bajo vacío “VP” y un detector STEM para muestras nanométricas. Como accesorio adicional se instaló un detector de análisis químico cuantitativo (EDS) marca Oxford el cual permite realizar un análisis preciso de los elementos químicos de las diferentes muestras, mediante la detección de rayos X característicos.
El equipo cuenta con variados porta muestras para darle a los investigadores todas las posibilidades de análisis, como un STAGE en vertical para además medir de manera transversal.
Para mejorar las lecturas en muestras no conductoras es que se adquirió un Sistema de recubrimiento de muestras Quorum Technologies Q150R, este equipo permite realizar sputtering de oro a las muestras si están así lo requieren.
servicios
Preparación de muestras
Sputtering (recubrimiento)
Secado punto crítico
Imagenología FE-SEM /STEM
Imagenología FE-SEM vista transversal
Análisis EDX
Solicitud de servicio
Requisitos de la muestra
Las muestras para analizar en caso de ser sólida, debe venir previamente cortado en un tamaño no mayor a un centímetro. Para minerales polvo en un frasco pequeño rotulado donde deben están como cristales pequeños o polvo.
Este equipo permite analizar cualquier tipo de muestra, mientras cumpla con el tamaño y sea una muestra seca, la metalización para dar conductividad eléctrica, dependerá de la muestra en cuestión.
Formulario Solicitud
Para su solicitud debe de llenar el siguiente formulario y enviarlo al correo fesem.cdea@uantof.cl